冷熱沖擊試驗(yàn)箱 電子元器件設(shè)備生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

產(chǎn)品詳情與用途
冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于測(cè)試電子元器件在高溫與極低溫瞬間切換下的物理性能及耐候性。通過模擬產(chǎn)品在運(yùn)輸、存儲(chǔ)及使用過程中可能遭遇的劇烈溫度變化環(huán)境，快速評(píng)估其結(jié)構(gòu)可靠性及電氣性能穩(wěn)定性。該設(shè)備能有效暴露元器件的焊接缺陷、材料膨脹系數(shù)不匹配及密封失效等潛在問題，是電子制造、科研機(jī)構(gòu)及質(zhì)檢單位進(jìn)行產(chǎn)品驗(yàn)證的核心設(shè)備。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 電子元器件設(shè)備

技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍： A型（-40℃ ～ +150℃）、B型（-55℃ ～ +150℃）、C型（-65℃ ～ +150℃）

• 高溫槽預(yù)熱上限： +180℃

• 低溫槽預(yù)冷下限： -70℃

• 溫度恢復(fù)時(shí)間： ≤5分鐘（符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件）

• 轉(zhuǎn)換時(shí)間： ≤10秒（吊籃式或三箱式氣動(dòng)切換）

• 溫度波動(dòng)度： ±0.5℃

• 均勻度： ≤2.0℃

箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)
試驗(yàn)箱采用整體式結(jié)構(gòu)，由高溫區(qū)、低溫區(qū)和測(cè)試區(qū)三部分構(gòu)成。外殼采用優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板靜電噴塑處理，耐腐蝕且易清潔；內(nèi)膽采用SUS304不銹鋼板，確保長(zhǎng)期高溫低溫運(yùn)行下無銹蝕。保溫層填充高密度聚氨酯泡沫及玻璃纖維棉，有效防止冷量熱量散失。觀察窗采用多層中空防霜玻璃，配合進(jìn)口防凝露加熱裝置，確保試驗(yàn)過程清晰可視。

工作原理
設(shè)備通過氣動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)樣品吊籃在高溫槽與低溫槽之間快速移動(dòng)，或通過風(fēng)門切換改變氣流流向，實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試樣品的溫度沖擊。系統(tǒng)采用獨(dú)特的蓄熱蓄冷結(jié)構(gòu)，預(yù)存儲(chǔ)能量，在沖擊瞬間釋放，確保溫度恢復(fù)速度。制冷系統(tǒng)采用法國泰康或德國比澤爾壓縮機(jī)組成的二元復(fù)疊制冷系統(tǒng)，降溫速度快，運(yùn)行穩(wěn)定。加熱系統(tǒng)采用高速導(dǎo)熱鎳鉻合金加熱器，PID控制確?？販鼐珳?zhǔn)。

滿足標(biāo)準(zhǔn)
設(shè)備嚴(yán)格遵循并滿足以下標(biāo)準(zhǔn)要求：

• GB/T 2423.1-2008 低溫試驗(yàn)方法

• GB/T 2423.2-2008 高溫試驗(yàn)方法

• GB/T 2423.22-2012 溫度變化試驗(yàn)

• GJB 150.5A-2009 裝備溫度沖擊試驗(yàn)

• IEC 60068-2-14 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程

應(yīng)用領(lǐng)域
廣泛應(yīng)用于集成電路（IC）、電容電阻、PCB線路板、半導(dǎo)體器件、LED光電元件、連接器及繼電器等電子元器件的可靠性測(cè)試。同時(shí)適用于通訊設(shè)備、汽車電子、航空航天儀表及消費(fèi)電子產(chǎn)品的整機(jī)或部件篩選。